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STD2000半导体分立器件静态参数测试仪系统
半导体分立器件静态参数测试仪系统 陕西天士立科技有限公司/STD2000/半导体分立器件静态参数测试仪系统可以测试Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR
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STD-WS 标准白板
STD-WS 标准白板高反射率/稳定防水/漫反射标准板 STD-WS 系列标准白板 采用高品质进口 PTFE 材料加工打磨而成,适用于紫外-可见-近红外(200~2500nm)宽光谱
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光谱定标白板 STD-WS-1
一个外壳材料为阳极氧化铝盒里面,并有带螺纹的盖子。具有防水、稳定性好的特性,在深紫外应用下也没问题。使用提示STD-WS表面为PTFE材料,防止灰尘和手触摸。避免水洗 。正常使用中难免污染材料表面
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皮革厚度计-英国SATRA STD495
技术参数:标 准:SATRA TM1、BS 3144、ISO 2589,用于测量皮革、合成材料、橡胶等材料厚度。 精 度:0.01mm 砧板直径:10mm/50mm压头直径:10mm/29mm
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STD-CC标准余弦矫正器
系列型号型号描述STD-CC-6余弦矫正器 6mm 直径,波长范围200nm-1100nm,视角180 度复享科技余弦校正器可与光纤和光谱仪连接,用于相对光谱强度和绝对光谱强度测量、发射光谱
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影像CCD相机
仪器简介:iKon-M 深度制冷影像CCD相机 本系列CCD相机可以提供多种芯片的配置方案,针对不同的科研应用研究,提供最适合的技术解决方案。技术参数:主要型号及指标
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自动影像仪
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WTW photoFlex STD便携式光度计
WTW便携式光度计photoFlex采用6个LED灯提供6个不同波长的光源进行比色分析,实现现场便携测量。仪器内置多条标准曲线并配套预制试剂。预制试剂列表请参考“WTW光度计测试参数表”。根据
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真密度分析仪 STD-3200型
相关技术参数如下:测试数据 测定体积范围:0.01~20 cm3;测定密度范围:0~无已知上限;精确度:优于±0.01%,重复性:优于±0.01%; 测试效率 分析仓数量: 2个;测试时间:单
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皮革龟裂试验机-英国SATRA STD190
技术参数:型号:STD 190 夹环内径:25mm 可选变形量:7,8或9mm 夹喉长度:90mm 气压源:最小4 bar 操作方式:按钮式 毛重:5kg 净重:4kg 尺寸:24×24
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